日本NF FRA51615開關電源的環路增益相位分析儀
測試頻率 10 μHz ～ 15 MHz
從 10 μHz 的低頻到 15 MHz 實現全覆蓋。分辨率也提高到 10 μHz 。支持電化學阻抗測試所需的超低頻。
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測試速度 0.5 ms/point
掃描速度快 0.5 ms/point。可幫助縮短生產線上的節拍時間。
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基本準確度 增益 ±0.01 dB, 相位 ±0.06°
通過數字傅立葉計算方法與自校準功能，隨時進行高精度測試。與原來型號相比，增益 / 相位的準確度均有所提升。
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* 準確度根據測試條件而不同。
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動態量程 140 dB
通過高分辨率 A/D 轉換器和對每個測試頻率點分別進行量程優化的自動切換量程功能，確保較大的動態量程。對于測試過程中發生的變化，也能準確地測試出來。
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隔離電壓 600 V CAT Ⅱ ／ 300 V CAT Ⅲ
振蕩器輸出（OSC）與 2 個分析輸入（CH1/ CH2）在機殼與端子間相互被隔離，額定絕緣為 600V CATⅡ 或 300V CATⅢ。
高壓電需求增大的逆變器和 PFC 回路等以電源回路的環路 / 增益測試為，其應用范圍越來越大。
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自動切換量程
追隨輸入信號的電平，設定佳量程后再進行測試。如檢測到超出量程的噪聲，則自動設定大的量程進行重新測試。測試數據成為未出現量程飽和的數據。為消除隨著量程變化而出現的測試值不連續，也可選擇固定量程。
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自動高密度掃描
支持高 20,000 點的高密度測試，僅針對測試數據急劇變化的區間，自動提高頻率密度進行測試。
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振幅壓縮功能
為防止被測試系統的飽和或破損，對振蕩器的電平進行控制，以使被測試系統的振幅水平保持穩定。
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積分功能
消除噪聲影響進行測試的數據積分功能。重復測試期間按循環數或時間進行設定。
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自動積分功能
進行反復積分、直至噪聲引起的測試波動成分達到設定值以下的功能。
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延時功能
為減輕由于頻率改變時的瞬態響應而引起的誤差，將時間延時至測試開始的功能。還追加了僅在掃描或開始當場測試時，將時間延時至測試開始的功能。
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微分 / 積分運算功能
在測試數據的時間區域里進行微分／二次微分／積分／二次積分的功能。對于來自加速度傳感器和激光多普勒振動計的信號，在掃描的同時進行運算，變換成位移／速度／加速度并顯示。
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接口 GPIB，USB，LAN，RS-232，VGA
標準配備 GPIB, USB, LAN, RS-232 接口。可構建自動測試系統。
另外，在背面配備了 VGA 連接器作為外部顯示器。關于其他輸出連接器等，請參閱右側的背面照片。 back
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測試作業的效率UP!
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順序測試
對于設定存儲的內容，按照編號順序讀出并掃描測試的功能。對于一個掃描，可將頻率范圍多分割成 20 個部分，在各自的頻率范圍內分別按不同的振幅、積分設定等進行測試。濾波器和壓電元件等想要高密度地測試特定的頻率范圍時，多層陶瓷電容器（MLCC）、電感器和變壓器等具有偏壓依存性的零部件的測試等較為方便。
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濾波器的通帶測試
僅必要頻率范圍的測試
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MLCC的電容測試
在相同頻率范圍內，改變測試條件進行測試
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標記搜索功能
除讓標記移動并讀取數值外，還可自動搜索符合設定條件的點。
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群延時測試
可顯示用于濾波器等電子電路波形再現性評價的群延時（GD： Group Delay，用 角頻率對輸入輸出間的相位進行微分）。
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頻率變化時相位控制
在振蕩器輸出信號的相位為 0°時改變頻率。由此，從頻率掃描開始到結束期間的直流成分變為零，在電池的阻抗測試中，充放電狀態不發生變化。另外，在高通濾波器（HPF）的頻率特性測試中，不會由于直流而產生瞬態響應。
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誤差校正
開路校正／短路校正／負載校正，端口延長功能，電位梯度消除功能，補償
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? 開路校正／短路校正
開路時通過浮動導納、短路時通過殘余阻抗校正測試誤差。（阻抗測試）
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? 負載校正
將已知數值的樣品作為標準阻抗來校正誤差。（阻抗測試）
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? 端口延長功能
在使用較長電纜時校正因傳輸延時引起的誤差。（阻抗測試）
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? 電位梯度消除功能
假定測試信號是由正弦波和鋸齒波（電位變動波形）構成的，分別測出正弦波與鋸齒波各自的大小與相位。消除由于電池等充放電造成的電位變化的影響。
（阻抗測試）
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? 補償
對于連接到外部的傳感器和電纜等測試系統的頻率特性
進行預先測試，校正測試系統的誤差成分。
（增益 / 相位測試）
* 在各個（ ）內的測試中使用的校正功能。
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圖表顯示
? SPLIT 顯示
可選擇在 1 個畫面上顯示 1 個圖表的“SINGLE”和上下顯示2 個圖表的“SPLIT”。
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? 數據跡線
可覆蓋參考數據跡線（REF）和測試數據跡線（MEAS）。
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? 相位 UNWRAP 顯示
按 0°、180°、360°不折回地連續顯示相位。還可顯示超過 ±360°的相位。
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